Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Gilles Marckmann : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01008413
Soumis le : mardi 17 juin 2014-11:03:04
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01008413 , version 1
Citer
Franck Schoefs, Vikram Pakrashi, Bidisha Ghosh. Mesure de la fiabilité de détection des défauts par analyse d'image par courbes ROC. Journées Scientifiques de l'Université de Nantes, 2010, Nantes, France. ⟨hal-01008413⟩
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