Direct electronics recoils measurement by ionization in LXe for 3γ imaging - Université de Nantes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Direct electronics recoils measurement by ionization in LXe for 3γ imaging

Y. Xing
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 177420
  • IdHAL : yajing-xing
Laboratoire de physique subatomique et des technologies associées

Domaines

Instrumentations et Détecteurs [physics.ins-det] Physique des Hautes Energies - Expérience [hep-ex]

Yajing Xing  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02433068

Soumis le : mercredi 8 janvier 2020-19:14:09

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02433068 , version 1 (08-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02433068 , version 1

Citer

Y. Xing. Direct electronics recoils measurement by ionization in LXe for 3γ imaging. XeSAT 2017, Apr 2017, Khon Kaen, Thailand. ⟨hal-02433068⟩

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