Contribution à l'étude des effets de charge sur l'émission X des matériaux isolants non métallisés - Université de Nantes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Canadian Journal of Physics Année : 2002

Contribution à l'étude des effets de charge sur l'émission X des matériaux isolants non métallisés

Résumé

The presence of charges perturbs the microanalysis-X on insulator samples. Attempt to suppress these effects have been fruitless and a better understanding of the charge phenomenon is the only way to a clear interpretation of the results of a microanalysis-X.From a simulation of the charges implanted by an electron beam on an insulator target, we compute, as a fuction of the integrated dose, the caracteristics of the emitted X-rays, such as the generating function phi(rho z) or the intensity of caracteristic lines. We underline the role of the electric field on the primary beam and on the electron trajectories in the target. These results allow the analysis of experimentally measured X-rays. Our studies on the effects of the diameter of the probe and on the exposure time led us to establish the best conditions for the successful microanalysis-X of an insulator.
La microanalyse X d'échantillons isolants est perturbée par les phénomènes de charge. Les solutions mises en oeuvre pour supprimer ces effets ne sont pas efficaces et seule une bonne compréhension du phénomène de charge peut permettre d'interpréter correctement les résultats d'une microanalyse. À partir d'une simulation de l'implantation de charge par un faisceau électronique dans une cible isolante, nous calculons, en fonction de la dose reçue, les caractéristiques de l'émission X telle la fonction de génération ϕ (ρ z) ou l'intensité des raies caractéristiques. Le róle du champ électrique sur le faisceau primaire et sur les trajectoires électroniques au sein de la cible est souligné. Ces résultats nous permettent d'analyser les spectres X obtenus expérimentalement. Des études en fonction du diamètre de la sonde et du temps d'exposition de la cible au faisceau nous conduisent à préciser les conditions nécessaires à la bonne réalisation de la microanalyse X d'un échantillon
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01091799 , version 1 (06-12-2014)

Identifiants

Citer

K. Raouadi, Raphaël Renoud, Askri B., Béchir Yangui, Zouheir Fakhfakh. Contribution à l'étude des effets de charge sur l'émission X des matériaux isolants non métallisés. Canadian Journal of Physics, 2002, 80 (6), pp.661-674. ⟨10.1139/p02-026#.VIMrQNKG9OI⟩. ⟨hal-01091799⟩
16 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More